8-tums kiselskiva P/N-typ (100) 1-100Ω dummy-återvinningssubstrat

Kort beskrivning:

Stort lager av dubbelsidiga polerade wafers, alla wafers från 50 till 400 mm i diameter. Om din specifikation inte finns i vårt lager har vi etablerat långsiktiga relationer med många leverantörer som kan specialtillverka wafers för att passa alla unika specifikationer. Dubbelsidiga polerade wafers kan användas för kisel, glas och andra material som vanligtvis används inom halvledarindustrin.

Skicka e-post till oss

Produktinformation

Produktetiketter

Introduktion av waferlåda

8-tums kiselskivor är ett vanligt förekommande kiselsubstratmaterial och används flitigt i tillverkningsprocessen för integrerade kretsar. Sådana kiselskivor används ofta för att tillverka olika typer av integrerade kretsar, inklusive mikroprocessorer, minneschips, sensorer och andra elektroniska enheter. 8-tums kiselskivor används ofta för att tillverka chip av relativt stora storlekar, med fördelar som en större yta och möjligheten att tillverka fler chip på en enda kiselskiva, vilket leder till ökad produktionseffektivitet. 8-tums kiselskivan har också goda mekaniska och kemiska egenskaper, vilket är lämpligt för storskalig produktion av integrerade kretsar.

Produktegenskaper

8" P/N-typ, polerad kiselskiva (25 st)

Orientering: 200

Resistivitet: 0,1–40 ohm•cm (Kan variera från sats till sats)

Tjocklek: 725 +/- 20 um

Prime/Monitor/Test Betyg

MATERIALEGENSKAPER

Parameter	Karakteristisk
Typ/Dopmedel	P, bor N, fosfor N, antimon N, arsenik
Orienteringar	<100>, <111> avskärningsorienteringar enligt kundens specifikationer
Syreinnehåll	10¹⁹ppmA Anpassade toleranser enligt kundens specifikation
Kolhalt	< 0,6 ppmA

MEKANISKA EGENSKAPER

Parameter	Främsta	Övervaka/test A	Testa
Diameter	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Tjocklek	725±20µm (standard)	725±25µm (standard) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (standard)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Rosett	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Sjal	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Kantavrundning	SEMI-STD
Märkning	Endast primär halvlägenhet, halvlägenheter i standardstorlek Jeida Flat, Notch

Parameter	Främsta	Övervaka/test A	Testa
Kriterier för framsida
Ytbeskaffenhet	Kemisk Mekanisk Polerad	Kemisk Mekanisk Polerad	Kemisk Mekanisk Polerad
Ytjämnhet	< 2°C	< 2°C	< 2°C
Förorening Partiklar vid >0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Dis, gropar Apelsinskal	Ingen	Ingen	Ingen
Såg, märken Striationer	Ingen	Ingen	Ingen
Kriterier för baksidan
Sprickor, kråkfötter, sågmärken, fläckar	Ingen	Ingen	Ingen
Ytbeskaffenhet	Etsad kaustisk